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비트 오류율
비트 오류율은 비교한 비트들 가운데 서로 다른 비트가 차지하는 비율이다. BER이라고 줄여 부른다. 통신에서 송신한 비트와 복원한 비트를 비교하는 데 사용하며 데이터의 시간 정렬과 오류 정정 전후 중 어느 지점을 측정했는지 명시해야 한다.
위상 편이 변조
위상 편이 변조는 디지털 정보를 여러 개의 정해진 위상 후보로 표현하는 방식이다. PSK라고 줄여 부른다. M-PSK는 M개의 심벌 후보를 사용하며 표준적인 성상도에서는 같은 반지름의 원 위에 후보들이 놓인다.
직교 진폭 변조
직교 진폭 변조는 동상 성분과 직교 성분의 진폭을 함께 사용해 정보를 표현하는 방식이다. QAM이라고 줄여 부른다. 디지털 QAM에서는 정해진 성상도 점 중 하나를 심벌로 선택하며 점의 수와 비트 매핑, 전력 정규화를 구분해야 한다.
성상도
성상도는 디지털 변조 신호의 심벌을 복소 평면의 점으로 나타내는 그림이다. 가로축에는 동상 성분 I, 세로축에는 직교 성분 Q를 두는 것이 일반적이다. 기준 심벌 위치와 실제 수신점의 분포를 비교해 신호 상태를 살펴볼 수 있다.
IQ 신호
IQ 신호는 동상 성분 I와 직교 성분 Q의 두 값으로 신호의 크기와 위상을 표현하는 방식이다. I/Q 신호라고도 쓴다. 보통 두 성분을 복소수 I+jQ로 묶으며 무선 신호의 생성과 수신, 디지털 신호 처리에서 사용한다.
위상 변조
위상 변조는 전달할 정보에 따라 반송 신호의 위상을 바꾸는 방식이다. PM이라고 줄여 부른다. 주파수 변조와 함께 각도 변조에 속하지만 같은 정보 신호를 넣었을 때 위상과 순간 주파수가 달라지는 관계는 서로 다르다.
주파수 변조
주파수 변조는 전달할 정보에 따라 반송 신호의 순간 주파수를 바꾸는 방식이다. FM이라고 줄여 부른다. 이상적인 모델에서는 진폭을 일정하게 유지하면서 위상의 변화 속도에 정보를 싣는다. 정보에 따라 진폭을 바꾸는 AM과 구분한다.
진폭 변조
진폭 변조는 전달할 정보에 따라 반송 신호의 진폭을 바꾸는 변조 방식이다. AM이라고 줄여 부른다. 반송파를 함께 보내는 방식과 억제하는 방식, 양쪽 측파대를 쓰는 방식과 한쪽만 쓰는 방식 등 여러 형태가 있다.
포락선 (신호 처리)
신호 처리에서 포락선은 빠르게 진동하는 파형의 바깥쪽 크기 변화를 나타내는 곡선이다. 영어로 envelope라고 한다. 해석 신호의 절댓값, 구간별 rms, 국소 봉우리 연결 등 계산 방식에 따라 서로 다른 결과를 얻을 수 있다.
힐베르트 변환
힐베르트 변환은 신호의 주파수 성분에 부호에 따라 반대 방향의 90도 위상 변화를 주는 선형 변환이다. 해석 신호의 허수부를 구성하는 데 사용한다. 이상적인 변환에서 직류가 아닌 성분의 크기는 유지되지만 모든 성분을 같은 시간만큼 지연시키는 연산은 아니다.
해석 신호
해석 신호는 실수 신호를 실수부로, 그 힐베르트 변환을 허수부로 갖도록 만든 복소수 신호다. 신호 처리에서는 진폭과 위상을 함께 나타내는 데 사용한다. 복소해석학에서 말하는 해석함수와는 용어의 사용 맥락이 다르다.
순간 주파수
순간 주파수는 시간에 따라 변하는 위상의 변화율로 정의하는 주파수다. 위상을 rad로 표현하면 시간 미분을 2π로 나누어 Hz로 나타낸다. 모든 복합 신호를 대표하는 하나의 실제 진동 주파수가 자동으로 정해진다는 뜻은 아니다.
처프 신호
처프 신호는 시간에 따라 주파수가 변하는 진동 신호다. 영어로 chirp signal이라고 한다. 주파수가 올라가는 업처프와 내려가는 다운처프가 있으며 선형 처프에서는 순간 주파수가 시간에 비례해 변한다.
스펙트로그램
스펙트로그램은 시간에 따라 신호의 주파수 성분이 어떻게 달라지는지 보여 주는 표현이다. 기본적인 정의는 단시간 푸리에 변환의 절댓값을 제곱한 값이다. 그림에서는 보통 시간과 주파수를 두 축으로 두고 성분의 크기를 색으로 표시한다.
단시간 푸리에 변환
단시간 푸리에 변환은 신호의 짧은 구간에 창을 적용해 푸리에 변환을 구하고 그 구간을 옮겨 가며 반복하는 방법이다. STFT라고 줄여 부른다. 전체 기록의 주파수 성분만 보는 대신 그 성분이 언제 나타나는지 함께 살펴볼 수 있다.
Welch 방법
Welch 방법은 신호를 여러 구간으로 나누고 각 구간의 스펙트럼 추정값을 평균해 전력 스펙트럼 밀도를 구하는 방법이다. 웰치 방법이라고도 부른다. 인접 구간을 겹쳐 사용할 수 있으며 구간 길이와 창, 겹침 비율이 결과에 영향을 준다.
전력 스펙트럼 밀도
전력 스펙트럼 밀도는 신호의 평균 제곱 크기나 전력이 주파수에 어떻게 분포하는지 단위 주파수당 값으로 나타낸 것이다. PSD라고 줄여 부른다. 일정한 주파수 구간에 걸쳐 적분하면 그 구간의 평균 제곱 크기나 전력에 해당하는 값을 얻는다.
자기상관
자기상관은 하나의 신호를 시간상으로 이동한 자기 자신과 비교하는 방법이다. 반복 패턴이나 시간적 연관성을 살펴볼 때 사용한다. 평균 제거와 정규화, 관측 길이에 따라 값의 의미가 달라지므로 그래프의 봉우리만으로 결과를 판단하지 않는다.
상호상관
상호상관은 두 신호의 상대적인 시간 위치를 바꾸어 가며 유사성을 계산하는 방법이다. 시간 지연을 추정하거나 알려진 패턴을 찾는 데 사용할 수 있다. 지연의 부호와 정규화 방식은 정의에 따라 달라지므로 계산 관례를 먼저 확인한다.
제로 패딩
제로 패딩은 데이터의 길이를 맞추거나 변환을 계산하기 위해 0을 덧붙이는 처리다. 신호의 DFT 분석에서는 주파수 격자를 촘촘하게 표시하는 데 사용할 수 있다. 실제 관측 데이터를 새로 얻는 것이 아니므로 본래의 주파수 분해능이 높아진 것과 구분해야 한다.
순환 합성곱
순환 합성곱은 정해진 길이의 경계를 넘는 인덱스를 처음으로 되돌려 계산하는 합성곱이다. 원형 합성곱이라고도 부른다. 같은 길이의 DFT들을 위치별로 곱한 뒤 역변환하면 순환 합성곱이 되므로 FFT를 이용한 필터 계산에서 경계 조건을 확인해야 한다.
Hamming 창
Hamming 창은 상수항과 코사인항을 조합하는 창 함수다. 해밍 창이라고도 부른다. 표준적인 대칭형에서는 양끝 값이 0.08로 남아 끝점이 0인 Hann 창과 다르다. 창을 비교할 때는 이름뿐 아니라 길이와 주기형 또는 대칭형 정의를 맞춘다.
Hann 창
Hann 창은 코사인 함수를 이용해 구간의 양끝 가중치를 줄이는 창 함수다. 한 창 또는 Hanning 창이라고도 부른다. 스펙트럼 분석과 FIR 필터 설계에 사용하며 이름이 비슷한 Hamming 창과 계수가 다르다.
창 함수
창 함수는 유한한 데이터 구간에 적용하는 가중치 함수다. 신호 분석에서는 각 샘플에 가중치를 곱해 구간의 양끝이나 중심이 결과에 기여하는 정도를 조절한다. 주파수 추정과 디지털 필터 설계에서 사용하며 윈도 함수라고도 부른다.
이산 푸리에 변환
이산 푸리에 변환은 길이가 유한한 수열을 같은 개수의 주파수 성분으로 나타내는 변환이다. DFT라고 줄여 부른다. 각 성분은 크기와 위상을 담는 복소수이며 FFT는 이 변환을 효율적으로 계산하는 알고리즘 계열이다.
고속 푸리에 변환
고속 푸리에 변환은 이산 푸리에 변환을 효율적으로 계산하는 알고리즘 계열이다. FFT라고 줄여 부른다. 다른 종류의 주파수 정보를 만들어 내는 변환이라기보다 같은 DFT 결과를 더 적은 연산으로 구하는 방법이며 신호 분석과 필터링 등에 사용한다.
스펙트럼 누설
스펙트럼 누설은 유한한 구간의 신호를 주파수 분석할 때 한 성분의 영향이 주변 주파수로 퍼져 보이는 현상이다. 실제 신호에 그만큼의 다른 정현파가 생겼다는 뜻은 아니다. 관측 구간과 창 함수의 선택이 분석 결과에 영향을 준다.
군지연
군지연은 필터의 위상이 주파수에 따라 변하는 기울기로부터 정의하는 지연 특성이다. 군 지연이라고도 쓴다. 각주파수에 대한 연속적인 위상 응답의 미분에 음수를 붙여 구하며 위상 지연이나 모든 신호의 단일한 도착 시간과 항상 같은 것은 아니다.
주파수 응답
주파수 응답은 시스템이 주파수별로 신호의 크기와 위상을 어떻게 바꾸는지 나타낸다. 선형 시불변 필터에서는 정현파 입력의 주파수를 유지하면서 생기는 진폭 비와 위상 차이를 복소수로 표현할 수 있다. 크기 응답만으로 시간적 변화까지 모두 설명할 수는 없다.
임펄스 응답
임펄스 응답은 시스템에 단위 임펄스를 입력했을 때 나타나는 출력이다. 디지털 신호에서는 한 시점만 1이고 나머지는 0인 수열을 시험 입력으로 쓴다. 필터가 한 번의 입력 영향을 얼마나 오래, 어떤 형태로 남기는지 살펴볼 수 있다.
합성곱
합성곱은 두 함수나 수열을 상대적으로 이동시키면서 곱을 합하거나 적분하는 연산이다. 컨볼루션이라고도 부른다. 신호 처리에서는 선형 시불변 시스템의 입력과 임펄스 응답으로 출력을 계산하는 데 사용하며 같은 위치끼리만 곱하는 연산과 구분한다.
IIR 필터
IIR 필터는 임펄스 입력에 대한 응답이 이론적으로 유한한 시점에서 끝나지 않는 필터다. 무한 임펄스 응답 필터라고도 부른다. 디지털 구현에서는 이전 출력값을 다시 사용하는 구조가 흔하며 응답이 계속 남는다는 것과 불안정하다는 것은 구분해야 한다.
FIR 필터
FIR 필터는 임펄스 입력에 대한 응답이 유한한 길이에서 끝나는 필터다. 디지털 신호 처리에서는 정해진 개수의 입력 샘플에 계수를 곱해 합하는 형태로 구현할 수 있다. 유한 임펄스 응답 필터라고도 부르며 이동 평균 필터가 한 예다.
중앙값 필터
중앙값 필터는 일정한 데이터 구간 안의 값들을 크기순으로 정렬했을 때 중앙에 오는 값으로 출력을 정하는 필터다. 시간 신호에서는 구간을 옮겨 가며 계산한다. 평균과 달리 값의 합이 아니라 순서에 기초하므로 튀는 값에 대한 반응도 다르다.
이동 평균 필터
이동 평균 필터는 일정한 길이의 데이터 구간을 옮겨 가며 평균을 계산하는 필터다. 동일한 가중치를 쓰는 유한 구간 방식은 FIR 필터의 한 종류다. 짧은 변동을 완화할 수 있지만 급격한 변화와 신호의 세부 형태도 함께 바꿀 수 있다.
데시메이션
데시메이션은 디지털 신호의 샘플링 속도를 낮추는 처리다. 보통 에일리어싱을 억제하는 필터링과 일정 간격의 샘플 선택을 함께 뜻한다. 정수 M배로 낮추면 출력 샘플링 속도는 입력의 M분의 일이 된다.
오버샘플링
오버샘플링은 관심 신호를 표현하는 데 필요한 속도보다 높은 속도로 샘플을 얻는 방법이다. 디지털 필터링과 함께 사용하면 제한된 대역에서 잡음을 줄이는 데 도움이 된다. 샘플 수가 많아지는 것과 장치 자체의 정확도가 높아지는 것은 구분해야 한다.
델타 시그마 ADC
델타 시그마 ADC는 빠른 내부 변환과 양자화 잡음의 주파수 분포 조절, 디지털 필터링을 결합하는 아날로그 디지털 변환기다. 시그마 델타 ADC라고도 부른다. 내부 변조기의 처리 속도와 최종 데이터가 나오는 속도를 구분해야 한다.
파이프라인형 ADC
파이프라인형 ADC는 여러 단계가 입력의 일부를 변환하고 남은 오차 성분을 다음 단계로 넘기는 아날로그 디지털 변환기다. 서로 다른 샘플을 각 단계에서 겹쳐 처리해 처리량을 높인다. 한 샘플의 결과가 나올 때까지의 지연과 연속 출력의 간격을 구분해야 한다.
플래시형 ADC
플래시형 ADC는 여러 비교기가 같은 입력을 서로 다른 기준 전압과 병렬로 비교하는 아날로그 디지털 변환기다. 비교 결과를 디지털 코드로 바꾸며 빠른 판단에 적합하다. 기본 구조에서는 비트 수가 늘 때 비교기 수가 지수적으로 증가한다.
슈미트 트리거
슈미트 트리거는 입력이 올라갈 때와 내려갈 때 서로 다른 임계값으로 상태를 전환하는 회로다. 두 임계값 사이에서는 앞선 상태를 유지하는 히스테리시스가 있다. 임계값 근처의 작은 흔들림 때문에 출력이 반복 전환되는 현상을 줄이는 데 사용한다.
전압 비교기
전압 비교기는 두 입력 전압의 대소 관계에 따라 출력 상태를 바꾸는 회로다. 입력 차이를 연속적인 출력 전압으로 확대하는 용도와 구별되며 임계값 감지나 ADC의 비트 판단 등에 사용한다.
축차 비교형 ADC
축차 비교형 ADC는 비교 결과에 따라 내부 기준을 단계적으로 바꾸며 입력에 대응하는 디지털 코드를 결정하는 아날로그 디지털 변환기다. SAR ADC라고도 부른다. 기본 구조에서는 큰 자리의 비트부터 판단해 남은 범위를 좁힌다.
ADC 이득 오차
ADC 이득 오차는 오프셋을 제거한 뒤에도 실제 변환 특성의 기울기가 이상적인 기울기와 다른 현상이다. 입력이 달라질 때 출력 변화량이 기준과 어긋나는 문제이며 입력 범위 끝에서 관찰한 전체 오차와 구분한다.
ADC 오프셋 오차
ADC 오프셋 오차는 실제 변환 특성이 이상적인 기준에서 일정하게 치우치는 성분이다. 입력 변화에 대한 기울기 차이인 이득 오차와 구분한다. 코드 전환 지점을 기준으로 정의하는 경우가 많아 데이터시트의 부호와 측정 기준을 확인해야 한다.
SFDR
SFDR은 정해진 주파수 범위에서 기본 신호와 가장 큰 불요 성분 사이의 크기 차이를 나타내는 지표다. ADC의 출력 스펙트럼 등을 평가할 때 사용한다. 모든 잡음을 합한 값이 아니라 가장 두드러진 개별 성분을 비교한다는 점이 특징이다.
총 고조파 왜곡
총 고조파 왜곡은 기본 주파수 성분에 비해 고조파 성분이 얼마나 큰지를 나타내는 지표다. THD라고 줄여 부른다. 신호 처리 장치의 비선형성으로 생기는 파형 변화를 평가할 때 사용하며 잡음까지 포함하는 THD+N과 구분한다.
신호대잡음비
신호대잡음비는 원하는 신호의 전력과 잡음 전력의 비다. SNR이라고 줄여 부르며 보통 데시벨로 나타낸다. 같은 장치도 신호 크기와 측정 대역에 따라 값이 달라지므로 수치와 시험 조건을 함께 확인한다.
SINAD
SINAD는 신호와 잡음 및 왜곡의 상대적인 크기를 나타내는 성능 지표다. ADC의 정현파 시험에서는 기본 신호와 그 밖의 잡음·왜곡 성분을 비교해 평가하며, 직류 성분의 처리와 분석 대역 등 시험 정의를 함께 확인한다.
유효 비트 수
유효 비트 수는 실제 데이터 변환기의 잡음과 왜곡을 이상적인 변환기의 비트 수에 대응시켜 나타내는 성능 지표다. ENOB라고 줄여 부르며, ADC의 동적 성능을 읽을 때 입력 주파수와 샘플링 조건을 함께 확인한다.
적분 비선형성
적분 비선형성은 ADC나 DAC의 실제 전달 특성이 기준 직선에서 얼마나 벗어나는지를 나타내는 특성이다. INL이라고 줄여 부르며, 끝점 기준이나 최적 직선 기준 등 평가 방법을 함께 확인해야 한다.
미분 비선형성
미분 비선형성은 ADC나 DAC에서 인접 코드 사이의 간격이 이상적인 한 단계에서 얼마나 벗어나는지를 나타내는 특성이다. DNL이라고 줄여 부르며 보통 LSB를 기준으로 표현한다.
아퍼처 지터
아퍼처 지터는 ADC 등에서 실제 표본을 취하는 시점이 표본마다 달라지는 불확실성이다. 일정한 시간 지연과 구별하며, 입력이 빠르게 변할수록 같은 시간 흔들림이 더 큰 전압 오차로 이어질 수 있다.
샘플 앤드 홀드
샘플 앤드 홀드는 변하는 아날로그 입력을 추적하다가 특정 시점의 값을 일정 시간 유지하는 회로다. S/H라고 줄여 쓰며, 아날로그 값을 변환하거나 후속 회로에서 처리할 시간을 확보하는 데 사용한다.
ADC 취득 시간
ADC 취득 시간은 입력의 표본을 얻기 위해 샘플링 회로가 입력에 연결되는 시간 구간과 관련된 사양이다. SAR ADC에서는 이 구간에 샘플링 커패시터를 입력 전압에 가깝게 충전하고 이후 유지한 값을 변환한다.
디지털 아날로그 변환기
디지털 아날로그 변환기는 디지털 코드를 받아 그 값에 대응하는 아날로그 전압이나 전류를 출력하는 회로다. DAC 또는 D/A 변환기라고 줄여 부르며, 디지털 제어값을 전기적 출력으로 만드는 데 사용한다.
양자화 (신호 처리)
신호 처리에서 양자화는 입력값의 범위를 여러 구간으로 나누고 각 구간을 정해진 이산 값으로 나타내는 과정이다. 같은 구간에 들어간 서로 다른 입력은 같은 출력으로 표현될 수 있다.
아날로그 디지털 변환기
아날로그 디지털 변환기는 아날로그 입력을 디지털 코드로 나타내는 전자 회로다. ADC 또는 A/D 변환기라고 부르며, 센서의 전기 신호를 저장하거나 계산하는 계통에 이용한다.
나이퀴스트 주파수
나이퀴스트 주파수는 일정 간격으로 샘플링하는 계통에서 샘플링 주파수의 절반에 해당하는 주파수다. 기저대역 신호의 샘플링과 에일리어싱을 설명할 때 사용하는 기준이다.
샘플링 주파수
샘플링 주파수는 신호의 표본을 단위 시간마다 몇 번 얻는지 나타내는 값이다. 샘플링 속도 또는 표본화 주파수라고도 부르며, 보통 초당 표본 수나 Hz로 표현한다.
에일리어싱
에일리어싱은 샘플링한 결과에서 서로 다른 원래 신호가 구별되지 않는 현상이다. 주파수 성분이 충분히 제한되지 않은 채 샘플링되면 높은 주파수 성분이 낮은 주파수처럼 나타날 수 있다.
안티앨리어싱 필터
안티앨리어싱 필터는 샘플링할 때 원치 않는 주파수 성분이 관심 대역의 다른 성분처럼 나타나는 현상을 줄이기 위해 사용하는 필터다. 기저대역 신호를 디지털로 변환할 때에는 보통 샘플러 앞에서 아날로그 대역을 제한한다.
저역 통과 필터
저역 통과 필터는 낮은 주파수 성분을 통과시키고 높은 주파수 성분을 감쇠하는 필터다. LPF라고 줄여 부르며, 측정 신호의 대역 제한과 샘플링 전 처리 등에 사용한다.
광학 초퍼
광학 초퍼는 빛의 경로를 주기적으로 열고 막아 광 신호의 세기를 변조하는 장치다. 회전 원판의 슬롯을 사용하는 방식이 대표적이며, 록인 측정을 위한 주기 신호와 기준을 만드는 데 이용한다.
록인 증폭기
록인 증폭기는 기준 신호의 주파수와 위상을 이용해 입력에서 관심 신호 성분을 측정하는 장비다. 위상 민감 검출과 필터링을 조합해 잡음 속의 작은 주기 신호를 조사하는 데 사용한다.
잡음 등가 전력
잡음 등가 전력은 광 검출기의 잡음을 입력 광출력으로 환산해 나타내는 특성값이다. NEP라고 줄여 부르며, 대역폭에 대해 정규화한 값은 보통 W/√Hz로 표시한다.
광응답도
광응답도는 광 검출기에 입사한 광출력에 대해 얼마나 큰 전기 신호가 나오는지를 나타내는 비율이다. 포토다이오드의 전류 응답은 보통 A/W로 나타내며, 측정 파장과 조건을 함께 확인한다.
암전류
암전류는 빛이 들어오지 않는 상태에서도 광 검출기에 흐르는 전류다. 포토다이오드에서는 어두운 상태에서 역방향 전압을 가했을 때의 작은 전류가 대표적인 예이며, 미약한 광 신호를 측정할 때 함께 고려한다.
포토다이오드
포토다이오드는 빛을 전기 신호로 변환하는 반도체 다이오드다. 광다이오드라고도 부르며, 흡수된 광자가 전자와 정공을 만들어 발생하는 광전류를 광 검출에 이용한다.
트랜스임피던스 증폭기
트랜스임피던스 증폭기는 입력 전류를 출력 전압으로 변환하는 회로다. TIA라고 줄여 부르며, 포토다이오드처럼 전류로 신호를 내는 센서의 출력을 읽는 데 사용한다.
전하 증폭기
전하 증폭기는 입력 전하를 전압 신호로 변환하는 회로 또는 측정 장치다. 압전 센서의 작은 전하 출력을 읽는 데 사용하며, 이상적인 반전 회로에서는 출력 전압 변화가 입력 전하에 비례한다.
압전 힘 센서
압전 힘 센서는 기계적 하중에 따른 압전 물질의 전하 신호로 힘을 측정하는 센서다. 빠르게 변하는 힘과 충격 등을 조사하는 데 활용하며, 측정 시간과 신호 처리 계통의 특성을 함께 고려한다.
로드셀
로드셀은 가해진 하중을 측정 가능한 신호로 바꾸는 센서다. 대표적인 스트레인 게이지 방식은 탄성체에 생기는 변형을 저항 변화로 읽어 힘을 구하며, 계량 장치와 재료 시험 등에 사용한다.
스트레인 게이지
스트레인 게이지는 변형에 따른 전기 저항 변화를 이용해 변형률을 측정하는 센서다. 접착식 금속 게이지는 시료의 변형을 얇은 금속 격자에 전달하고, 작은 저항 변화를 전기 신호로 읽는다.
디지털 영상 상관법
디지털 영상 상관법은 변형 전후의 영상을 비교해 시료 표면의 변위를 구하고 변형을 분석하는 광학 측정 방법이다. DIC라고 줄여 부르며, 표면의 무늬가 영상 사이에서 어떻게 이동하는지 추적한다.
신율계
신율계는 시료의 정해진 표점 거리에서 길이 변화를 측정하는 장치다. 인장 시험 등에서 변형률을 구하는 데 사용하며, 접촉식 장치와 영상 등을 이용하는 비접촉식 장치가 있다.
단면 수축률
단면 수축률은 인장 시험에서 파단부의 최소 단면적이 초기 단면적에 비해 얼마나 줄었는지를 백분율로 나타낸 값이다. Z로 표기하며, 금속 재료의 연성을 평가하는 특성값 가운데 하나다.
파단 후 연신율
파단 후 연신율은 인장 시험에서 시료가 끊어진 뒤 남은 표점 거리의 영구적인 증가량을 초기 표점 거리로 나눈 비율이다. 금속 인장 시험에서는 흔히 A로 나타내며, 늘어나는 성질을 평가하는 데 사용한다.
0.2% 내력
0.2% 내력은 인장 시험에서 소성 늘어남이 신율계 표점 거리의 0.2%에 해당할 때의 응력이다. Rp0.2로 나타내며, 뚜렷한 항복점이 없는 재료의 항복 특성을 일정한 기준으로 평가할 때 사용한다.
인장 강도
인장 강도는 인장 시험에서 정해진 최대 인장력을 초기 단면적으로 나누어 평가하는 강도 특성이다. Rm으로 나타내며, 어떤 최대 힘을 사용할지는 재료와 시험 방법의 정의를 따른다.
인장 시험
인장 시험은 시료를 잡아당기면서 힘과 늘어남을 측정해 인장 하중에 대한 재료의 응답을 조사하는 시험이다. 시험 목적과 재료에 맞는 조건에서 강도와 변형 특성을 평가한다.
쇼어 경도 (듀로미터)
듀로미터 방식의 쇼어 경도는 스프링으로 누르는 압입자의 침투 깊이를 이용해 고무와 플라스틱 등의 단단한 정도를 평가하는 척도다. Shore A와 Shore D처럼 측정 방식의 기호를 함께 적는다.
누프 경도
누프 경도는 길쭉한 마름모 모양 자국을 남기는 다이아몬드 압입자로 측정하는 압입 경도다. HK로 나타내며, 자국의 긴 대각선과 시험력을 이용해 평가한다.
로크웰 경도
로크웰 경도는 정해진 하중 순서로 압입한 뒤 생긴 깊이 차이로 평가하는 압입 경도다. 압입자와 시험력의 조합에 따라 여러 척도를 사용하며, HRC처럼 척도 기호를 포함해 결과를 나타낸다.
브리넬 경도
브리넬 경도는 구형 압입자를 정해진 시험력으로 눌러 남긴 자국의 크기로 평가하는 압입 경도다. 초경합금 구를 사용하는 시험은 HBW로 나타내며, 구의 지름과 시험력도 결과 해석에 필요하다.
나노 압입
나노 압입은 작은 압입자를 시료에 누르면서 하중과 변위를 연속적으로 기록해 국소적인 기계적 성질을 조사하는 방법이다. 하중-변위 곡선과 접촉 면적에 대한 분석으로 경도와 탄성률 등을 평가한다.
비커스 경도
비커스 경도는 정해진 시험력으로 다이아몬드 사각뿔 압입자를 누른 뒤 남은 자국의 두 대각선을 측정해 구하는 압입 경도다. HV로 나타내며, 시험력과 자국 크기를 함께 이용한다.
점도계
점도계는 유체의 흐름에 대한 저항을 측정해 점도를 구하는 장비다. 회전 저항을 이용하는 방식과 모세관에서의 흐름 등을 이용하는 방식이 있으며, 측정 원리와 조건에 따라 결과를 해석해야 한다.
전단 농화
전단 농화는 전단 속도가 증가할 때 겉보기 점도가 증가하는 유동 특성이다. 응력이 증가한다는 사실만이 아니라 응력과 전단 속도의 비가 어떻게 변하는지를 살펴 판정한다.
전단 박화
전단 박화는 전단 속도가 증가할 때 겉보기 점도가 감소하는 유동 특성이다. 같은 온도에서도 측정 속도에 따라 점도가 달라질 수 있는 비뉴턴 유동의 한 형태다.
레오미터
레오미터는 물질에 힘이나 변형을 가하고 그 응답을 측정해 유동과 변형 특성을 조사하는 장비다. 회전형 장비는 점도 측정뿐 아니라 진동 시험을 통한 점탄성 분석에도 이용된다.
틱소트로피
틱소트로피는 전단을 가하는 동안 재료의 내부 구조가 시간에 따라 변해 점도가 낮아지고, 전단을 줄이면 구조와 점도가 다시 회복되는 가역적 시간 의존 현상이다. 요변성이라고도 한다.
선형 점탄성 영역
선형 점탄성 영역은 온도와 주파수 등이 정해진 조건에서 진동 변형의 크기를 바꾸어도 측정 탄성률이 거의 일정하게 유지되는 범위다. LVR이라고 줄여 부르며 점탄성 시험의 변형 크기를 정할 때 확인한다.
완화 탄성률
완화 탄성률은 재료에 계단 형태의 변형률을 가하고 그 값을 유지했을 때, 시간에 따른 응력을 가한 변형률로 나눈 양이다. 선형 점탄성 영역의 전단 시험에서는 G(t)로 나타낸다.
크리프 컴플라이언스
크리프 컴플라이언스는 일정한 응력을 가한 뒤의 시간 의존적 변형률을 그 응력으로 나눈 양이다. 선형 점탄성 전단 시험에서는 J(t)로 쓰며, 변형되기 쉬운 정도를 시간에 따라 나타낸다.
점탄성
점탄성은 재료가 탄성에 따른 회복과 점성에 따른 시간 의존적 변형을 함께 보이는 성질이다. 힘과 변형의 관계를 설명할 때 얼마나 오래, 얼마나 빠르게 힘을 가했는지도 고려해야 한다.
유리 전이
유리 전이는 비정질 재료의 분자 운동이 관찰 시간 안에서 달라지면서 단단한 유리상과 더 유연한 상태 사이의 성질 변화가 나타나는 현상이다. 대표 온도를 Tg로 나타내지만, 실제 측정에서는 일정한 온도 구간에 걸친 변화로 관찰한다.
시차 열분석
시차 열분석은 제어된 온도 프로그램에서 시료와 기준 물질의 온도 차이를 기록하는 방법이다. DTA라고 줄여 부르며, 흡열이나 발열을 동반하는 전이와 반응을 조사하는 데 활용한다.
스피노자의 양태
스피노자에게 양태는 실체에 의존하는 존재 방식이다. 양태에는 유한 양태와 무한 양태가 있어 양태 전체를 유한하다고 단정할 수 없다.
동적 기계 분석
동적 기계 분석은 시료에 주기적인 힘이나 변형을 가하고 그 응답을 측정해 점탄성을 조사하는 방법이다. DMA라고 줄여 부르며, 온도와 주파수 등에 따른 저장 탄성률과 손실 탄성률을 분석한다.